Infraestructura


Después de muchos años y esfuerzos la SFES ha logrado construir una infraestructura razonable. Actualmente se cuenta con diferentes técnicas para el depósito de películas delgadas: erosión catódica por radio frecuencia, baño químico, sublimación en espacio cerrado, rocío pirolítico, depósito en fase vapor asistido por plasma, epitaxia por haces moleculares, epitaxia en fase liquida, screen printing, sol-Gel, etc.

Para la caracterización eléctrica se cuenta con sistemas tales como espectroscopía transitoria de niveles profundos, fotoconductividad, medición de capacitancia contra voltaje a alta y baja frecuencia y de corriente contra voltaje.

Para el estudio de propiedades ópticas se cuenta con sistemas para fotoluminiscencia, espectroscopía en el ultravioleta, visible e infrarrojo en sus modos de absorción y transmisión, espectroscopía fotoacústica, elipsometría espectral, espectroscopía Raman, Fotorreflectancia y Reflectividad.

Para estudios estructurales, se cuenta con microscopios electrónicos de barrido y transmisión, de fuerza atómica y de tunelamiento.

Para la caracterización química de los materiales se tiene espectroscopia de rayos x de energía dispersa, espectroscopia electrónica Auger y fotoemisión.

Asimismo, se trabaja con técnicas fototérmicas para realizar la caracterización de las propiedades térmicas.

También se cuenta con un difractómetro de rayos X con aditamentos para realizar mediciones a ángulos rasantes y a altas temperaturas necesarios para el análisis de películas delgadas.


informes: sfes@fis.cinvestav.mx